T-SCAN Automated使用 T-SCAN 激光掃描儀自（zì）動執行您的三維測...
T-SCAN Automated
T-SCAN CS德國Carl Zeiss光電技術有限公司（sī）推出新的配置（zhì）手持（chí）式三維...
T-SCAN CS
COMET 6適用於您的高要（yào）求數字（zì）化（huà）應用的技（jì）術（shù）：您的（de）項（xiàng）目在（zài）測量複雜/形狀（zhuàng）複雜的部...
COMET 6
高通量的計（jì）算機（jī）斷層掃描技術（shù）ZEISS VoluMax CT 係統是為快速檢（jiǎn）測大（dà）量...
ZEISS VoluMax
基於 ZEISS METROTOM 的工業計算機（jī）斷層掃描（CT）利用蔡司的工業計（jì）...
ZEISS METROTOM
用於高級材料研究（jiū）的顯微鏡係（xì）統將易操作性引入顯微工（gōng）作流程 - Axio Image...
Axio Imager 2
舒適的操（cāo）作條（tiáo）件下進行可（kě）靠的微觀結（jié）構和材料缺陷分析從三種 Axio Lab.A1 ...
Axio Lab.A1
用於材料檢驗、開發和分析的倒置顯微鏡（jìng）利用倒置顯微鏡 Axio Observer ...
Axio Observer
激光共聚焦顯微鏡激光共聚焦顯微鏡在樣品表麵同時逐點或多（duō）點（diǎn）掃描（miáo）成像。像素信（xìn）息集合在...
激光共聚焦顯微鏡
用於材料（liào）和生命科學的掃描電子顯微鏡蔡（cài）司掃描（miáo）電子顯微鏡（jìng）（SEM）能夠提供高分辨率（lǜ）的...
SEM 掃描電子顯微鏡
每種組件十分靈活。配置（zhì）方案成本經濟。根據需求準確配置 Axio Scope.A1...
Axio Scope.A1
探頭類型CONTURA可配備固定型被動式探頭、靈活的蔡司（sī）RDS關節式探頭（tóu）座或主動...
ZEISS CONTURA三坐標
● 概述由於采用模塊（kuài）式設計理念，ACCURA足以勝任未來的測量需求。它能根（gēn）據您對...
ZEISS ACCURA三坐標測量儀
● 概述由於采用模塊式設計理念，ACCURA足以勝任未來的測量需求。它能根據您對...
ZEISS ACCURA三坐標
極（jí）速掃描：VASTPRISMO 可獲取精準的測量結果。navigator技術是為...
ZEISS PRISMO三坐標
● 概述SPECTRUM II升級，讓測量結果更（gèng）可靠、掃描型SPECTRUM是一...
ZEISS SPECTRUM三坐標測量機
