Axio Imager 2

用於高級材料研（yán）究的（de）顯微（wēi）鏡係統

將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質量（liàng）檢（jiǎn）驗和流程控製中提供精準且可重複的結果。

Axio Imager 2 擁有出色的（de）光學鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預設條件（jiàn）和可重複的結果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式（shì）模塊。

從（cóng）四種不同（tóng）的（de）主機架中選擇您需要的係統，並借助解決方案擴展應用：Particle Analyzer、關聯顯微係統或 LSM 700。

出眾的表麵應（yīng）用

Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 可以在觸摸屏上顯示關鍵操作功能，使用指尖控製所有電動（dòng）組件。

其（qí）他控製按鈕依照人體工程學（xué）方式排列在（zài）調焦驅（qū）動裝置周邊，可通過（guò）觸覺輕易的區分各控製按鈕。

Axio Imager.D2m 有 5 個預（yù）編程按（àn）鈕，而 Axio Imager.Z2m 則有 10 個用戶自定義按鈕。

具（jù）有超高（gāo）對比度和分辨率的出色光學係統

模塊化主機設計，利用一係列電動和編碼組件增強靈活度

穩定的主機和無振動的工作環境能夠（gòu）確保觀測結果的可重複性

使用（yòng）激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進行升（shēng）級

在關聯顯微係統的工作和顆粒度（dù）分析中使用 Axio Imager 2

在質量檢驗和流程控製中，自動化功能可確保重複檢測結果（guǒ）的精準

觀察方式選擇

研究和（hé）檢測不同材料。分析金屬結構、複合材料、玻璃、木材和陶（táo）瓷。檢（jiǎn）查聚合物（wù）和液晶。

多種觀察方式可（kě）供（gòng）選擇，以獲得更多（duō）豐富的信息。使用反（fǎn）射光，在明場、暗場、微分幹涉（DIC）、圓微分幹涉（C-DIC）、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光，在明場、暗場、微分幹涉（DIC）、偏光或圓偏光下檢測樣品。

觀察方式管理器能確保（bǎo） Axio Imager 2 的照明設置可複製。