ZEISS METROTOM

基於 ZEISS METROTOM 的工業計算機斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業（yè）計（jì）算機斷層掃描係統，僅需（xū）一次 X 射線掃描，即（jí）可順利完成工（gōng）件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保係統的追蹤性。配備線性導軌及轉台，滿足客戶對精（jīng）度的高要求。

利用 ZEISS METROTOM 輕鬆完成測量（liàng）任務

測量與檢驗整體部件

ZEISS METROTOM 是一種用於（yú）測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業計算（suàn）機斷層掃描測量係（xì）統。而在利用傳統測量機（jī）測量時，此（cǐ）類隱藏性的結構信息隻（zhī）有將零件通（tōng）過費時的層（céng）層破壞方能獲得。

輕鬆且（qiě）精準（zhǔn）地進行多樣化特征（zhēng）檢測

利用 ZEISS METROTOM 計（jì）算機斷層掃描係統可一次掃描（miáo）海量的零部件（jiàn）特征。這些測量結（jié）果非常精準，且具可追溯性。和（hé）接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取（qǔ）海量測量點時，時間顯著縮短。

直觀簡易的軟件操作

僅（jǐn）需（xū）通過短（duǎn）時間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培（péi）訓課程，操作人員即可對零（líng）件（jiàn）進行掃描，透視零件的內部。利用 ZEISS CALYPSO 可評（píng）估 CT 數據，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合於同一份測量報告中。

用於質量保證的三維 X 射線測量技（jì）術

ZEISS METROTOM