T-SCAN LV模塊化（huà），個性化的係統配置測量（liàng）範圍大，測量精度高T-SCAN L...
T-SCAN LV掃描係（xì）統
COMET L3D結構非常緊湊的三維傳感器 COMET LƎD 是高性能（néng）且具有成...
COMET L3D掃描儀
T-SCAN Automated使用 T-SCAN 激光掃（sǎo）描儀自動執行您的（de）三維測...
T-SCAN Automated
T-SCAN CS德國Carl Zeiss光電技術有限公司推出新的配置手持（chí）式三維...
T-SCAN CS
COMET 6適用於您的高（gāo）要求數（shù）字化（huà）應用的技術：您的項目在測量複雜/形狀複雜（zá）的（de）部...
COMET 6
高通量的計算機斷層掃描技術ZEISS VoluMax CT 係統（tǒng）是為（wéi）快（kuài）速檢（jiǎn）測大量...
ZEISS VoluMax
基於 ZEISS METROTOM 的工業計算機斷層掃描（CT）利用蔡司的（de）工業計...
ZEISS METROTOM
用於高級材料研究的顯微鏡係統（tǒng）將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Image...
Axio Imager 2
舒適的操作條件下進行可靠的微（wēi）觀（guān）結構（gòu）和材料（liào）缺陷分析從三（sān）種（zhǒng） Axio Lab.A1 ...
Axio Lab.A1
用於（yú）材料檢驗、開發和分析的倒置顯微鏡利用倒置顯微鏡 Axio Observer ...
Axio Observer
激（jī）光（guāng）共聚焦顯（xiǎn）微鏡激光共聚焦顯微鏡在樣品（pǐn）表麵同時逐點或多點掃描成像。像素信息（xī）集合在...
激光共聚焦顯微鏡
用於材料和生命科學的掃描電子（zǐ）顯微鏡蔡司（sī）掃描電子顯微鏡（jìng）（SEM）能（néng）夠提供高分（fèn）辨率的...
SEM 掃描電子（zǐ）顯微鏡
每種組件十分靈（líng）活。配置方案成本經（jīng）濟。根（gēn）據需求準確配置 Axio Scope.A1...
Axio Scope.A1
探頭類型CONTURA可配備（bèi）固定型被動式探頭、靈活（huó）的蔡司RDS關節式探頭（tóu）座或主動...
ZEISS CONTURA三坐標
● 概（gài）述由於采用模塊式設計理念，ACCURA足以勝任未來的測（cè）量需求。它能根據您對...
ZEISS ACCURA三（sān）坐標測（cè）量儀
● 概述由於采用模塊式設計理念，ACCURA足以（yǐ）勝任（rèn）未來的測量需求。它能根據您對...
ZEISS ACCURA三坐標
極速掃（sǎo）描：VASTPRISMO 可（kě）獲取精準的測量結（jié）果。navigator技術是為...
ZEISS PRISMO三坐標
CD全譜（pǔ）直讀光（guāng）譜儀LG-Optics提供快速、穩定（dìng）和精確的分析以實現對樣品（pǐn）檢測的...
CCD全譜直（zhí）讀光（guāng）譜（pǔ）儀LG-Optics
● 概述SPECTRUM II升級，讓（ràng）測量結果更可靠、掃（sǎo）描型（xíng）SPECTRUM是一...
ZEISS SPECTRUM三坐標測（cè）量機
GP9000直讀直讀光譜分析（xī）儀檢出限低。對（duì）固體的金屬、合金樣品采用火花（huā）光源時檢出...
SAIKASI CCD直（zhí）讀光譜儀GP9000
