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ABIS II可用於檢測各種缺陷類（lèi）型。該係統可對凹痕、凹凸、凹（āo）陷、波紋、收縮、裂縫進行可（kě）靠的早（zǎo）期識別和分類，它是生產鈑（bǎn）金零件和白車身的完美質量控製儀器。用戶尤其可從高精（jīng）度和極短的循環時間中獲（huò）益。
ABIS II的模塊化探頭技術具有極高的靈活性。通過可（kě）選的集成（chéng）對比探頭，它還可以用於檢測（cè）對比度（dù）敏感的缺（quē）陷，例（lì）如：粘合劑殘留（liú）物、
劃痕和汙垢。
幾何測量
蔡司AICell
蔡司3D傳感器利用多線三角測量原理（lǐ），結合了2D輪廓（kuò）管理。這（zhè）樣就可（kě）以（yǐ）在金屬加工和車身結構中實現高速、高精度的檢測複雜的幾何元素。
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